60A CW/60A QCW Δοκιμή υψηλής ισχύος Ηλεκτρική παροχή λέιζερ HCPL006
Η τεχνολογία αυτή, που διαθέτει ευρύ φάσμα ανίχνευσης και διαχωρισμένες διεπαφές για την παρακολούθηση και τον έλεγχο σε πραγματικό χρόνο, παρέχει μια αποτελεσματική και αξιόπιστη λύση για πολύπλοκες εργασίες δοκιμών.Καλώς ήρθατε στην ιστοσελίδα μας!
Δοκιμασμός της τροφοδοσίας λευκής ενέργειας
-
HCPL006 Διοδιακή παροχή ενέργειας λέιζερ 60A CW/60A QCW Δοκιμαστική παροχή ενέργειας λέιζερ
Επικοινωνήστε -
20A CW / 20A QCW Δοκιμαστική παροχή ενέργειας λέιζερ HCPL002 Διοδίου υψηλής ισχύος
Επικοινωνήστε -
60A CW / 600A QCW Δοκιμαστική παροχή ενέργειας λέιζερ HCPL060 Διοδιακή παροχή ενέργειας λέιζερ
Επικοινωνήστε -
10V 500mA PXI Μονάδα μέτρησης πηγής Sub Card Pulse PXI SMU Μονάδα CBI401
Επικοινωνήστε -
Μετρητής πηγής παλμού P300 300V 1A 10A Μονάδα μέτρησης πηγής Δοκιμή ημιαγωγών
Επικοινωνήστε
Σχετικά βίντεο
60A CW/600A QCW Δοκιμή υψηλής ισχύος Ηλεκτρική παροχή λέιζερ HCPL060
Δοκιμασμός της τροφοδοσίας λευκής ενέργειας
February 25, 2025
20A CW/20A QCW Δοκιμασία υψηλής ισχύος Ηλεκτρική παροχή λέιζερ HCPL002
Δοκιμασμός της τροφοδοσίας λευκής ενέργειας
February 25, 2025
10kV/6000A Αναλυτής συσκευής ισχύος Στατικό σύστημα δοκιμής PMST για ημιαγωγούς MOSFET BJT IGBT και SiC GaN
Συστήματα δοκιμής ημιαγωγών
February 26, 2025
Κάρτα απόκτησης δεδομένων A400 με ανάλυση ADC 16 bit και ταχύτητα δειγματοληψίας 1 MS/s
Κάρτα απόκτησης δεδομένων
February 26, 2025
S300 Μονάδα μέτρησης πηγής συνεχούς ρεύματος 300V/1A για δοκιμή των ηλεκτρικών χαρακτηριστικών
Μονάδα μέτρου πηγής
February 24, 2025
Εφοδιασμός ηλεκτρικής ενέργειας με παλμό υψηλού ρεύματος 300A/30V HCPL030 για δοκιμή SiC/IGBT/GaN HEMT
Ηλεκτρική παροχή υψηλού ρεύματος
February 25, 2025
2 MS/s Πολυκαναλική κάρτα απόκτησης δεδομένων A400B Board High Speed
Μονάδα μέτρου πηγής
February 26, 2025
Πολυκαναλικό σύστημα γήρανσης λέιζερ υψηλής ισχύος LDBI
Συστήματα δοκιμής ημιαγωγών
February 26, 2025
ΠΡΕΣΙΚΟ ΕΙΣΤΡΟΜΟ. Η πηγή της εξερεύνησης Εσωτερική και εξωτερική συνέπεια
Άλλα Βίντεο
February 17, 2025