10V 500mA Μονάδα μέτρησης πηγής PXI Sub Card Pulse PXI SMU Μονάδα CBI401

Η CBI401 είναι βασικό στοιχείο των ψηφιακών μονάδων μέτρησης πηγών ακριβείας (SMU) της σειράς CS, που έχουν σχεδιαστεί για τον ηλεκτρικό χαρακτηρισμό πολλαπλών καναλιών μεσαίας έως χαμηλής ισχύος.Με ενιαία κάρτα τετρακοινών κοινής δομής εδάφους, κάθε κανάλι λειτουργεί ανεξάρτητα ή συγχρονικά, ιδανικό για παράλληλες δοκιμές υψηλής πυκνότητας.αξιοποιεί ένα εύρος ζώνης 3Gbps και 16 κανάλια για να επιτρέψει τον συντονισμό υψηλής ταχύτητας πολλών συσκευώνΟπτικοποιημένο για χαμηλό θόρυβο, υψηλής σταθερότητας δοκιμές παρτίδας, παρέχει μέχρι 500mA ρεύμα, 10V τάση, και 5W ισχύ ανά κανάλι, αντιμετωπίζοντας τις ανάγκες ακριβείας δοκιμών σε ημιαγωγούς, αισθητήρες,και συσκευές μικρής ισχύος.

Χαρακτηριστικά του προϊόντος

▪Σχεδιασμός πολυκαναλιών υψηλής πυκνότητας:Ενσωματώνει 4 ανεξάρτητα κανάλια ανά υποκαάρτη για δοκιμές παράλληλων συσκευών.

▪ Συγχρονισμένη λειτουργία:Ο συγχρονισμός μέσω διαφόρων καναλιών που ενεργοποιείται από υλικό εξασφαλίζει ακρίβεια χρονολόγησης μs.

▪ Ακριβότητα και χαμηλός θόρυβος:00,1% ακρίβεια προέλευσης/μετρήσεων με ανάλυση 51⁄2 ψηφίων· μέτρηση ρεύματος έως 5μA, εύρος τάσης 10mV ̇ 10V.

▪ Επιχείρηση τεσσάρων τεταρτημάτων:Συμμετέχει στην παραγωγή ηλεκτρικής ενέργειας ή στην παραγωγή ηλεκτρονικών φορτίων σε συνθήκες προμήθειας/άγκης.

▪ Ευελιξία διπλής λειτουργίας:Υποστηρίζει τόσο τα πρωτόκολλα δοκιμών με παλμούς όσο και τα πρωτόκολλα δοκιμών συνεχούς ρεύματος για δυναμική χαρακτηριστική.

▪ Μεταβαλλόμενη αρχιτεκτονική:Η απρόσκοπτη ολοκλήρωση με τους οικοδεσπότες της σειράς CS για επέκταση του συστήματος έως 40 κανάλια.

Παράμετροι προϊόντος

Εφαρμογές

▪ Δοκιμή των χαρακτηριστικών των διακριτών ημιαγωγών συσκευών, συμπεριλαμβανομένων των αντίστοιχων, των διόδων, των διόδων εκπομπής φωτός, των διόδων Zener, των διόδων PIN, των τρανζίστορ BJT, των MOSFET, των SIC, των GaN και άλλων συσκευών.

▪ Δοκιμές ενέργειας και αποδοτικότητας, συμπεριλαμβανομένων των LED/AMOLED, των ηλιακών κυψελών, των μετατροπών συνεχούς ρεύματος, κλπ.

▪ Δοκιμή χαρακτηριστικών αισθητήρων, συμπεριλαμβανομένης της αντίστασης, της επίδρασης Hall κλπ.

▪ Δοκιμή χαρακτηριστικών οργανικών υλικών, συμπεριλαμβανομένης της ηλεκτρονικής μελάνης, της εκτυπωμένης ηλεκτρονικής τεχνολογίας κλπ.

▪ Δοκιμασία χαρακτηριστικών νανοϋλικών, συμπεριλαμβανομένου του γραφενίου, των νανοσύρματων κλπ.