10V/500mA Τετρακοινική μονάδα μέτρησης πηγής παλμού υποκαρτής CBI401

Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
February 25, 2025
Video Description:
Discover the CBI401, a 10V/500mA four-channel PXI Source Measure Unit subcard designed for high-density parallel testing. Ideal for semiconductors, sensors, and micro-power devices, it offers precision, low noise, and synchronized operation with up to 40 channels scalability.
Σχετικά βίντεο

10V/500mA Τέσσερα κανάλια υποκαρτέλα DC πηγή μονάδα μέτρησης CS401

Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
February 24, 2025

Μονάδα μέτρησης πηγής παλμού 10V/1A τετρακοινών υποκαρτών CBI402

Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
February 24, 2025

60A CW/600A QCW Δοκιμή υψηλής ισχύος Ηλεκτρική παροχή λέιζερ HCPL060

Δοκιμασμός της τροφοδοσίας λευκής ενέργειας
February 25, 2025

20A CW/20A QCW Δοκιμασία υψηλής ισχύος Ηλεκτρική παροχή λέιζερ HCPL002

Δοκιμασμός της τροφοδοσίας λευκής ενέργειας
February 25, 2025

1200V/100A Αναλυτής παραμέτρων ημιαγωγών SPA6100

Συστήματα δοκιμής ημιαγωγών
February 26, 2025