Το βίντεο κανάλι της Κίνας Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
συζήτηση Μας ελάτε σε επαφή με
Σπίτι Βίντεο Λίστα αναπαραγωγής Σχετικά με εμάς Επίσημη ιστοσελίδα
ελληνικά
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

18V/1A Τετρακοινική μονάδα μέτρησης πηγής παλμού υποκαρτής CBI403

Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
February 24, 2025
συζήτηση
Παρουσιάζουμε το CBI403, μια υψηλής ακρίβειας τετρακοινοποιημένη μονάδα μέτρησης πηγής παλμών υποκαρτών που έχει σχεδιαστεί για προηγμένο ηλεκτρικό χαρακτηρισμό, προσφέροντας ακρίβεια 0,1% και ανάλυση 51⁄2-ψήφια,με λειτουργία τεσσάρων τεταρτημάτων, διπλές λειτουργίες δοκιμής, και υψηλή πυκνότητα καναλιού, ιδανική για την επικύρωση σε επίπεδο ημιαγωγού πλακιδίου και ταυτόχρονη δοκιμή πίεσης πολλαπλών συσκευών, Καλώς ήρθατε να επισκεφθείτε την ιστοσελίδα μας!
Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
Σχετικά βίντεο
10V/500mA Τέσσερα κανάλια υποκαρτέλα DC πηγή μονάδα μέτρησης CS401 00:26
10V/500mA Τέσσερα κανάλια υποκαρτέλα DC πηγή μονάδα μέτρησης CS401

10V/500mA Τέσσερα κανάλια υποκαρτέλα DC πηγή μονάδα μέτρησης CS401
Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
February 24, 2025
10V/500mA Τετρακοινική μονάδα μέτρησης πηγής παλμού υποκαρτής CBI401 00:24
10V/500mA Τετρακοινική μονάδα μέτρησης πηγής παλμού υποκαρτής CBI401

10V/500mA Τετρακοινική μονάδα μέτρησης πηγής παλμού υποκαρτής CBI401
Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
February 24, 2025
Μονάδα μέτρησης πηγής παλμού 10V/1A τετρακοινών υποκαρτών CBI402 00:24
Μονάδα μέτρησης πηγής παλμού 10V/1A τετρακοινών υποκαρτών CBI402

Μονάδα μέτρησης πηγής παλμού 10V/1A τετρακοινών υποκαρτών CBI402
Εξοπλισμός δοκιμής πολλαπλών καναλιών
February 24, 2025
10kV/6000A Αναλυτής συσκευής ισχύος Στατικό σύστημα δοκιμής PMST για ημιαγωγούς MOSFET BJT IGBT και SiC GaN 00:30
10kV/6000A Αναλυτής συσκευής ισχύος Στατικό σύστημα δοκιμής PMST για ημιαγωγούς MOSFET BJT IGBT και SiC GaN

10kV/6000A Αναλυτής συσκευής ισχύος Στατικό σύστημα δοκιμής PMST για ημιαγωγούς MOSFET BJT IGBT και SiC GaN
Συστήματα δοκιμής ημιαγωγών
February 26, 2025
Κάρτα απόκτησης δεδομένων A400 με ανάλυση ADC 16 bit και ταχύτητα δειγματοληψίας 1 MS/s 00:24
Κάρτα απόκτησης δεδομένων A400 με ανάλυση ADC 16 bit και ταχύτητα δειγματοληψίας 1 MS/s

Κάρτα απόκτησης δεδομένων A400 με ανάλυση ADC 16 bit και ταχύτητα δειγματοληψίας 1 MS/s
Κάρτα απόκτησης δεδομένων
February 26, 2025
S300 Μονάδα μέτρησης πηγής συνεχούς ρεύματος 300V/1A για δοκιμή των ηλεκτρικών χαρακτηριστικών 00:24
S300 Μονάδα μέτρησης πηγής συνεχούς ρεύματος 300V/1A για δοκιμή των ηλεκτρικών χαρακτηριστικών

S300 Μονάδα μέτρησης πηγής συνεχούς ρεύματος 300V/1A για δοκιμή των ηλεκτρικών χαρακτηριστικών
Μονάδα μέτρου πηγής
February 24, 2025
1000A Σύστημα δοκιμής ρεύματος αισθητήρα CTMS 00:24
1000A Σύστημα δοκιμής ρεύματος αισθητήρα CTMS

1000A Σύστημα δοκιμής ρεύματος αισθητήρα CTMS
Συστήματα δοκιμής ημιαγωγών
February 26, 2025
Εφοδιασμός ηλεκτρικής ενέργειας με παλμό υψηλού ρεύματος 300A/30V HCPL030 για δοκιμή SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
Εφοδιασμός ηλεκτρικής ενέργειας με παλμό υψηλού ρεύματος 300A/30V HCPL030 για δοκιμή SiC/IGBT/GaN HEMT

Εφοδιασμός ηλεκτρικής ενέργειας με παλμό υψηλού ρεύματος 300A/30V HCPL030 για δοκιμή SiC/IGBT/GaN HEMT
Ηλεκτρική παροχή υψηλού ρεύματος
February 25, 2025
2 MS/s Πολυκαναλική κάρτα απόκτησης δεδομένων A400B Board High Speed 00:27
2 MS/s Πολυκαναλική κάρτα απόκτησης δεδομένων A400B Board High Speed

2 MS/s Πολυκαναλική κάρτα απόκτησης δεδομένων A400B Board High Speed
Μονάδα μέτρου πηγής
February 26, 2025
Πολυκαναλικό σύστημα γήρανσης λέιζερ υψηλής ισχύος LDBI 00:34
Πολυκαναλικό σύστημα γήρανσης λέιζερ υψηλής ισχύος LDBI

Πολυκαναλικό σύστημα γήρανσης λέιζερ υψηλής ισχύος LDBI
Συστήματα δοκιμής ημιαγωγών
February 26, 2025